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1.
Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices, and processes : joint proceedings of symposia on: ALTEC 2003 : Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization IV : Paris, France ; and the 202nd Meeting of the Electrochemical Society : Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices VI : Salt Lake City, Utah /
订购中
著者:
edited by Bernd O. Kolbesen ... [et al.] ; sponsored by the Electrochemical Society Electronics Division.
出版社:
Electrochemical Society ;
出版日期: c2003.
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2.
Integrated circuit metrology, inspection, and process control VI : 9-11 March 1992, San Jose, California /
订购中
著者:
Postek
Michael T.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1992.
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3.
Nonlinear image processing III : 12-13 February 1992, San Jose, California /
订购中
著者:
Dougherty
Edward R.
Astola
Jaakko.
Boncelet
Charles G.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1992.
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4.
Advances in optical information processing V : 21-24 April 1992, Orlando, Florida /
订购中
著者:
Pape
Dennis R.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1992.
文献类型:
图书 , 索书号:
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5.
Hybrid image and signal processing III : 23-24 April 1992, Orlando, Florida /
订购中
著者:
Casasent
David Paul.
Tescher
Andrew G.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1992.
文献类型:
图书 , 索书号:
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6.
Signal processing, sensor fusion, and target recognition : 20-22 April 1992, Orlando, Florida /
订购中
著者:
Kadar
Ivan.
Libby
Vibeke.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1992.
文献类型:
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著者简介
7.
High resolution sensors and hybrid systems : 10-14 February 1992, San Jose, California /
订购中
著者:
Blouke
Morley M.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1992.
文献类型:
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8.
Machine vision architectures, integration, and applications : 12-15 November 1991, Boston, Massachusetts /
订购中
著者:
Batchelor
Bruce G.
Chen
Michael J. W.
Waltz
Frederick M.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1992.
文献类型:
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9.
Optics, illumination, and image sensing for machine vision VI : 14-15 November 1991, Boston, Massachusetts /
订购中
著者:
Svetkoff
Donald J.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1992.
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内容简介
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10.
Integrated circuit metrology, inspection, and process control V : 4-5 March 1991, San Jose, California /
订购中
著者:
Arnold
William H.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1991.
文献类型:
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