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[society of photo-optical instrumentation engineers]
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dey, jim
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alfano, robert r.,
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american association of physicists in medicine
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boyd, ian w.,
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current, michael i
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devendra k. sadana, michael i. current, chairmen/editors ; presented in cooperation with american association of physicists in medicine ... [et al.]
(1)
edited by bernd o. kolbesen ... [et al.] ; sponsored by the electrochemical society electronics division
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electrochemical society
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fred h. pollak
(1)
international school on laser surface microprocessing
(1)
international society for hybrid microelectronics
(1)
jim dey, editor
(1)
jim dey, editor ; presented by the society of photo-optical instrumentation engineers in cooperation with the northern california microphotomask/masking working group and the international society for hybrid microelectronics, march 17-18, 1980, san jose, california
(1)
kolbesen, bernd o
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konov, v. i
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Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices, and processes : joint proceedings of symposia on: ALTEC 2003 : Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization IV : Paris, France ; and the 202nd Meeting of the Electrochemical Society : Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices VI : Salt Lake City, Utah /
订购中
著者:
edited by Bernd O. Kolbesen ... [et al.] ; sponsored by the Electrochemical Society Electronics Division.
出版社:
Electrochemical Society ;
出版日期: c2003.
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2.
First International School on Laser Surface Microprocessing : proceedings : 30 October-3 November 1989, Tashkent, USSR /
订购中
著者:
Konov
V. I.
Luk§ëiìanchuk
B. S.
Boyd
Ian W.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1990.
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著者简介
3.
Advanced processing of semiconductor devices : 23-25 March 1987, Bay Point, Florida /
订购中
著者:
Mukherjee
Sayan D.
出版社:
SPIE,
出版日期: 1987.
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著者简介
4.
Ultrafast lasers probe phenomena in bulk and microstructure semiconductors : 25-26 March, 1987, Bay Point, Florida /
订购中
著者:
Alfano
Robert R.
出版社:
SPIE,
出版日期: c1987.
文献类型:
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5.
Advanced processing and characterization of semiconductors III : 22-24 January 1986, Los Angeles, California /
订购中
著者:
Sadana
Devendra K.
Current
Michael I.
出版社:
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
出版日期: c1986.
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6.
Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California /
订购中
著者:
Pollak
Fred H.
出版社:
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
出版日期: 1985.
文献类型:
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著者简介
7.
Semiconductor microlithography VI : March 30-31, 1981, San Jose, California /
订购中
著者:
Dey
Jim.
出版社:
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
出版日期: ©1981.
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著者简介
8.
Semiconductor microlithography V /
订购中
著者:
Dey
Jim.
出版社:
SPIE,
出版日期: 1980.
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