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可靠性物理
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ieee electron devices society
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sponsored by the ieee electron devices society and the ieee reliability society
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付桂翠
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ebeling
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sponsored by the ieee electorn devices society and the ieee reliabilty society
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付桂翠[等]编著
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何小琦
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华东师范大学物理系半导体教研室
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华东师范大学物理系半导体教研室编
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可靠性与环境试验编辑部
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可靠性与环境试验编辑部编
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出版日期
2025
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封面仅供参考
可靠性物理讲座
订购中
著者:
华东师范大学物理系半导体教研室
出版社:
上海电子设备工业公司中心试验站
出版日期: 1980.11
文献类型:
图书 , 索书号:
TN06/200
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2.
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可靠性物理
已借4次.
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著者:
恩云飞
谢少锋
何小琦
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
TB114.2/611/2015
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3.
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半导体器件可靠性物理
订购中
著者:
高光渤
李学信
出版社:
科学出版社
出版日期: 1987
文献类型:
图书 , 索书号:
TN306/093
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4.
封面仅供参考
IEEE可靠性物理年会论文集选编.1
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著者:
出版社:
可靠性与环境试验编辑部
出版日期: 1983.11
文献类型:
图书 , 索书号:
TN06/1291.3/V1
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5.
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IEEE可靠性物理年会论文集选编.Ø̣
订购中
著者:
可靠性与环境试验编辑部
出版社:
可靠性与环境试验编辑部
出版日期: 1984.3
文献类型:
图书 , 索书号:
TN06/1291.3/V2
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6.
封面仅供参考
可靠性物理与工程:失效时间模型:time-to-failure modeling
已借17次.
订购中
著者:
麦克弗森
出版社:
科学出版社
出版日期: 2013
文献类型:
图书 , 索书号:
TB114.2/545/2013
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7.
封面仅供参考
可靠性物理
订购中
著者:
姚立真
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2004
文献类型:
图书 , 索书号:
TN6/404/2004
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8.
封面仅供参考
可靠性物理讲义:半导体器件中常见失效模式和机理.一
订购中
著者:
杨兴
出版社:
上海市电子设备工业公司
出版日期: 1980.11
文献类型:
图书 , 索书号:
TN06/490
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9.
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空间辐射环境可靠性技术
订购中
著者:
王群勇
陈冬梅
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2022
文献类型:
图书 , 索书号:
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10.
封面仅供参考
Reliability physics, 1986 : 24th annual proceedings. /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Electorn Devices Society and the IEEE Reliabilty Society
出版社:
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
出版日期: 1986.
文献类型:
图书 , 索书号:
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